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张斌 副教授
2017-03-28 09:37   审核人:

硕士生导师   张斌  简介

 

【基本信息】

所在部门:通信工程学院

职  称:副教授

出生年月:19721031

电子邮件:2710159804@qq.com

手机号码:18628015589

QQ号码:2710159804

 

【个人简介】

张斌,男,副教授,生于19721031日,研究生学历,博士学位。2009年毕业于美国德克萨斯大学奥斯汀分校,获电子与计算机工程工学博士学位。现任成都信息工程学院通信学院副教授。2015年入选成都市高新区高层次人才创业计划和成都市科技人才创新创业计划。


【研究方向】

  1. 嵌入式系统设计

  2. 混合信号分析与处理

  3. 高可靠数字集成电路设计


【在研项目】

  1. 基于嵌入式系统和人工智能的商场信息采集系统(与企业合作)

  2. 基于嵌入式系统的耐高温高速随钻测量系统 (与企业合作)

  3. 军用和宇航级集成电路与微系统的可靠性研究与设计,成都信息工程学院科研启动项目,项目负责人

  4. 适合北斗卫星搭载的低成本抗太空辐射数字信号处理系统,国家留学基金项目,项目负责人


【完成项目】

  1. 针对基于单元库设计的大规模集成电路的快速软错误分析(美国),主研

  2. 在瞬态噪声下的SRAM动态稳定性建模分析(美国),主研

  3. 在动态温度波动下的由负偏置温度不稳定性引发的PMOS性能衰退的建模分析(美国),主研


【发表论文】

  1. A. Ramalingam, B. Zhang, A. Devgan, D. Z. Pan, “Sleep transistor sizing using timing criticality and temporal currents,” in Proc. Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2005, pp. 1094 – 1097, Shanghai, China.

  2. B. Zhang and M. Orshansky, “Symbolic simulation of the propagation and filtering of transient faulty pulses,” in Workshop on System Effects of Logic Soft Errors, 2005, Urbana Champion, IL.

  3. B. Zhang, W.-S. Wang and M. Orshansky, “FASER: Fast analysis of soft error susceptibility for cell-based designs,” in Proc. International Symposium on Quality Electronic Design, 2006, pp. 755-760, San Jose, CA. (Best Paper Award最佳论文奖)

  4. K. Constantinides, S. Plaza, J. Blome, B. Zhang, V. Bertacco, S. Mahlke, T. Austin and M. Orshansky, “BulletProof: a defect-tolerant CMP switch architecture,” in Proc. International Symposium on High-Performance Computer Architecture, 2006, pp. 5-16, Austin, TX.

  5. B. Zhang, A. Arapostathis, S. Nassif and M. Orshansky, “Analytical modeling of SRAM dynamic stability,” in Proc. International Conference on Computer Aided Design, 2006, pp. 315 – 322, San Jose, CA.

  6. K. Constantinides, S. Plaza, J. Blome, V. Bertacco, S. Mahlke, T. Austin, B. Zhang, and M. Orshansky, “Architecting a reliable CMP switch architecture,” in ACM Transations on Architecture and Code Optimization, Vol. 4, No. 1, March 2007.

  7. B. Zhang and M. Orshansky, “Modeling of NBTI-Induced PMOS Degradation under Arbitrary Dynamic Temperature Variation,” in Proc. International Symposium on Quality Electronic Design, 2008, pp. 774-779, San Jose, CA.

  8. B. Zhang and M. Orshansky, “On-line Circuit Reliability Monitoring,” in Proc. Great Lake Symposium on VLSI, 2009, Boston, MA.

 

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